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CMI165銅箔測厚儀
管理員 發(fā)布日期：2015-6-1 點(diǎn)擊數：3239次
產(chǎn)品簡(jiǎn)介： CMI165是一款人性化設計、堅固耐用的世界首款帶溫度補償功能的手持式銅箔測厚儀。一直以來(lái)面銅測量的結果往往受到樣品溫度的影響。
產(chǎn)品介紹：
CMI165是一款人性化設計、堅固耐用的世界首款帶溫度補償功能的手持式銅箔測厚儀。一直以來(lái)面銅測量的結果往往受到樣品溫度的影響。CMI165的溫度補償功能解決了這個(gè)問(wèn)題，確保測量結果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測厚儀配有探針?lè )雷o罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測產(chǎn)品特色
可測試高溫的PCB銅箔
顯示單位可為mils，μm或oz
可用于銅箔的來(lái)料檢驗
可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試
可用于電鍍銅后的面銅厚度測試
配有SRP-T1，帶有溫度補償功能的面銅測試頭
可用于蝕刻后線(xiàn)路上的面銅厚度測試
產(chǎn)品規格：
利用微電阻原理通過(guò)四針式探頭進(jìn)行銅厚測量，符合EN 14571測試標準
厚度測量范圍：化學(xué)銅：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils
電鍍銅：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils<
儀器再現性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
強大的數據統計分析功能，包括數據記錄平均數、標準差和上下限提醒功能。
數據顯示單位可選擇mils、μm或oz
儀器的操作界面有英文和簡(jiǎn)體中文兩種語(yǔ)言供選擇
儀器無(wú)需特殊規格標準片，同樣可實(shí)現蝕刻后的線(xiàn)型銅箔的厚度測量，可測線(xiàn)寬范圍低至0.2 mm
儀器可以?xún)Υ?690條檢測結果（測試日期時(shí)間可自行設定）
測試數據通過(guò)USB2.0實(shí)現高速傳輸，也可保存為Excel格式文件儀器為工廠(chǎng)預校準
客戶(hù)可根據不同應用靈活設置儀器
用戶(hù)可選擇固定或連續測量模式
儀器使用普通AA電池供電
SRP-T1：CMI165專(zhuān)用可更換探針
牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭，綜合運用微電阻原理及溫度補償技術(shù)，使其成為世界上首家
推出帶溫度補償功能的銅箔測厚儀的制造商。
生產(chǎn)廠(chǎng)商:牛津儀器
